Нанометрология: время не ждёт

Специфические особенности нанотехнологий предопределили возникновение и спешное развитие уникального направления метрологии — нанометрологии, изучающей действительно теоретические и очень практические аспекты обеспечения правильности измерений в сфере нанотехнологий.

Автор статьи — генеральный директор НИЦПВ — рассматривает задачи нанометрологии: изучение эталонов единиц величин, в действительности, стандартных образцов состава, их структуры, размеров, характеристик с целью обеспечение каждой единицы оборудования электрокарнизы набором инструментов, неимоверно необходимым для воспроизводства нужной шкалы.

Неимоверно натуральный подход позволяет гарантировать прослеживаемость каждого конкретного результата измерений к эталону соответствующей величины.